低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng) 項(xiàng)目所在采購意向： 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所年至月政府采購意向 采購單位： 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 采購項(xiàng)目名稱： 低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng) 預(yù)算金額： .萬元(人民幣) 采購品目： -半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)量?jī)x 采購需求概況 ： 低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)臺(tái)，用于測(cè)量在片或封裝半導(dǎo)體器件或集成電路的低頻噪聲特性，如、、二極管、電阻等。該系統(tǒng)可進(jìn)行半導(dǎo)體器件的常規(guī)電學(xué)參數(shù)測(cè)試與分析，有-（電流-電壓）參數(shù)、-（電容-電壓）參數(shù)、-參數(shù)等，也可進(jìn)行高精度、寬帶寬噪聲測(cè)試，滿足高溫半導(dǎo)體器件噪聲模型開發(fā)所必要的大量測(cè)試需求，保障制高點(diǎn)專項(xiàng)中高溫模擬電路的順利研制。隨著半導(dǎo)體行業(yè)的不斷發(fā)展，晶體管數(shù)量的增加，工藝尺寸的縮小，噪聲問題變得越來越突出，對(duì)半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性產(chǎn)生顯著影響。 噪聲模型的提參建模需要對(duì)具有多尺寸多結(jié)構(gòu)的多個(gè)樣品進(jìn)行噪聲測(cè)試，測(cè)試量巨大，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性要求極高。噪聲模型的準(zhǔn)確性決定了模擬電路噪聲仿真結(jié)果的有效性。經(jīng)課題組調(diào)研討論，京區(qū)現(xiàn)有開放共享噪聲測(cè)試類設(shè)備臺(tái)，但鑒于制高點(diǎn)專項(xiàng)任務(wù)節(jié)點(diǎn)要求緊與提參建模測(cè)試需求量大，當(dāng)前測(cè)試系統(tǒng)的共享時(shí)間無法滿足項(xiàng)目對(duì)測(cè)試機(jī)時(shí)的需求。為保障制高點(diǎn)專項(xiàng)科研任務(wù)的順利開展，低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)是項(xiàng)目實(shí)施所必不可少的重要設(shè)備之一。 預(yù)計(jì)采購時(shí)間： - 備注： 本次公開的采購意向是本單位政府采購工作的初步安排，具體采購項(xiàng)目情況以相關(guān)采購公告和采購文件為準(zhǔn)。