項(xiàng)目名稱：光掩模低端缺陷檢驗(yàn)設(shè)備 項(xiàng)目編號(hào)：- 招標(biāo)范圍：采購(gòu)光掩模低端缺陷檢驗(yàn)設(shè)備 招標(biāo)機(jī)構(gòu)：上海國(guó)際招標(biāo)有限公司 招標(biāo)人：廣州新銳光掩模科技有限公司 開(kāi)標(biāo)時(shí)間：-- : 公示時(shí)間：-- : - -- : 中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間：-- : 中標(biāo)人：上海御微半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 制造商：上海御微半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 制造商國(guó)家或地區(qū)：中國(guó)